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20250122_K-4_Basoco.PDF

上传人: 哆哆 编号:630960 2025-04-19 18页 1.43MB

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本文讨论了随着半导体设计复杂性的指数级增加,测试策略在芯片开发中的重要性。文章指出,从2005年的65nm到2025年的2-3nm,设计的复杂性显著提升,同时所需的研发人员也从100人年增加到2000人年。在此趋势下,芯片设计从单片芯片向小芯片(chiplets)的转变,以及由此带来的测试挑战成为重点。文章强调了在复杂性时代,优化测试流程可以节省成本,并提出了标准化和创新的方法来应对这些挑战。作者Nitza Basoco是Teradyne公司半导体测试部门的科技和市场策略师,她拥有超过23年的半导体行业经验,并在将新兴技术推向市场方面有着深厚的技术专长。
"如何应对芯片设计的复杂性增加?" "如何在资本效率时代优化测试策略?" "如何降低芯片测试成本并提高产量?"
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